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Semiconductor

반도체

반도체

: 광반응 특성 검사기

유기 포트다이오드(OPD) 및 수광 소자의 광량, 광파형에 따른 반응 특성 검사 장비 입니다.

Photo Response Test

Cut off Frequency, Rise/Fall Tim

High Luminance Lag Measurement

Optical Impedance

Modulated Light Source : Square, sine

530nm, 850nm Laser Diode

Data Report

: 분광 양자효율 검사기

유기포토다이오드(OPD) 및 수광 소자의 파장에 따른 에너지 변환효율을 측정 하는 장비 입니다.

Light Source: Xe or TH Lamp

Wavelength rage : 300~1,100nm / ~1500nm Option

Optical Chopping : 4Hz ~ 1kHz

Lock-In Amp : 4Ch, 24 Bit resolution

Signal Swithching & IV Converter

Reference Device: Si, InGaAs PD

: 장기 신뢰성 검사기

유기포토다이오드(OPD) 및 수광 소자의 온도, 광원, 전기적바이스 조건에서 장기 신뢰성을 검사하는 장비 입니다.

Multichannel Reliability Test

530nm, 850nm Laser Diode

Automatic X-Y Stage

Temperature Control Jig

Dark I-V Measurement

QE Measurement

Data Report