Semiconductor

반도체

광반응 특성 검사기

광반응 특성 시험기

광반응 특성 시험기

  • Photo Response Test
  • Cut off Frequency, Rise/Fall Tim
  • High Luminance Lag Measurement
  • Optical Impedance
  • Modulated Light Source : Square, sine
  • 530nm, 850nm Laser Diode
  • Data Report
사양Specifications

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