티엔이테크

Semiconductor

반도체

반도체

광반응 특성 검사기

분광 양자효율 검사기

장기 신뢰성 검사기

: 분광 양자효율 검사기

태양전지 및 광전소자의 EQE 측정 시스템

탄뎀형 솔라셀 측정 가능

넓은 측정 파장영역

다양한 파장의 바이어스 광원

외부 전기적 바이어스

높은 반복 정확성

측정 보고서 제공

: 장기 신뢰성 검사기

4채널 유기소자 신뢰성 검사장비

자동 X-Y 이송장치

온도가변형 지그

Dark-IV 변화 측정

QE 변화 측정

측정보고서 제공

: 광반응 특성 시험기

Photo Response Test

Cut off Frequency, Rise/Fall Tim

High Luminance Lag Measurement

Optical Impedance

Modulated Light Source : Square, sine

530nm, 850nm Laser Diode

Data Report

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